Prinsip Induksi Elektromagnetik F3 Probe Ketebalan Lapisan Cocok untuk Pengukur Ketebalan Lapisan

Informasi Dasar

Harga terbaik Hubungi sekarang

Informasi Detail

Bahan:

1018 baja

Kisaran suhu pengukuran benda kerja:

0~300℃

Rentang pengukuran:

0 ~ 3000μm

Kesalahan Pengukuran:

± (1%+2μm)

Menyoroti:

F3 coating thickness probe

Deskripsi Produk

F3 suhu tinggipelapisanprobe

Prinsip kerja: prinsip induksi elektromagnetik

Mengukur ketebalan lapisan non-magnetik pada substrat logam magnetik

Rentang suhu pengukuran benda kerja: 0~300℃

Rentang pengukuran: 0~3000μm

Kesalahan pengukuran: ±(1%+2µm)

Diameter probe 20mm, panjang 100mm

Prinsip Induksi Elektromagnetik F3 Probe Ketebalan Lapisan Cocok untuk Pengukur Ketebalan Lapisan 0

Prinsip Induksi Elektromagnetik F3 Probe Ketebalan Lapisan Cocok untuk Pengukur Ketebalan Lapisan 1

Prinsip Induksi Elektromagnetik F3 Probe Ketebalan Lapisan Cocok untuk Pengukur Ketebalan Lapisan 2

Prinsip Induksi Elektromagnetik F3 Probe Ketebalan Lapisan Cocok untuk Pengukur Ketebalan Lapisan 3

Prinsip Induksi Elektromagnetik F3 Probe Ketebalan Lapisan Cocok untuk Pengukur Ketebalan Lapisan 4

Label: